Étude d’architectures de capteurs RF intégrés au substrat destinés à la mesure diélectrique

par | Jan 28, 2019 | Génie électrique et informatique, Portail sciences et technologies, Recherche, Sciences et technologies, Une

Dans ces travaux de thèse, plusieurs nouvelles architectures d’éléments sensibles capables de mesurer différentes grandeurs physiques sont développées et présentées. Le premier dispositif conçu est un déphaseur intégré au substrat fonctionnalisé à l’aide d’une micro-poudre d’oxyde d’étain (SnO2) sensible à l’hydrogène. Le second consiste en une nouvelle génération d’interféromètres radiofréquences destinés à la détection et à la mesure ; il s’agit des premiers interféromètres intégrés au substrat. Enfin, le troisième dispositif développé consiste en un cornet sectoriel plan H intégré au substrat étudié pour la mesure du pourcentage d’humidité relative. Les structures proposées offrent des solutions simples, peu coûteuses et très sensibles. Elles permettent la détection de différentes quantités physiques en changeant seulement le matériau sensible. Le choix de ce dernier est simplifié avec la possibilité d’intégration des matériaux avec pertes diélectriques élevées. Par ailleurs, les nouveaux dispositifs intégrés au substrat développés pourraient être utilisés dans plusieurs domaines tels que la sécurité et le biomédical.

Thèse de doctorat en génie électrique soutenue le 21 novembre 2018

De gauche à droite:M. François Nougarou (UQTR), M. Daniel Massicotte (UQTR), M. Adel Benleulmi (UQTR), et M. Naimi Boubekeur (Centre collégial de transfert de technologie en télécommunications). En visioconférence: M. Frédéric Nabki (École de technologie supérieure).

Membres du jury

M. Daniel Massicotte, directeur de recherche
Professeur, Université du Québec à Trois-Rivières

M. Naimi Boubekeur, codirecteur de recherche
Formateur-chercheur, Centre collégial de transfert de technologie en télécommunications, Trois-Rivières

M. François Nougarou, président du jury
Professeur, Université du Québec à Trois-Rivières

M. Jean-Claude Morissette, évaluateur externe
Professeur, Centre collégial de transfert de technologie en télécommunications, Trois-Rivières

M. Frédéric Nabki, évaluateur externe
Professeur, École de technologie supérieure, Montréal

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